给定结构表面上的缺陷分布,例如由二维晶体材料、液晶表面和薄夹壳所代表的缺陷,所产生的应力场和变形形状是什么?出于这种考虑,我们首先分类,并量化,在广泛的结构表面上允许的平移,旋转和测量缺陷。有了适当的应变概念,缺陷密度就显示为应变不相容的来源。
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