给定结构表面上缺陷的分布,例如由二维晶体材料、液晶表面和薄夹层壳代表的缺陷,由此产生的应力场和变形形状是什么?在这种关注的激励下,我们首先对一大类结构表面上允许的平移、旋转和测量缺陷进行分类和量化。有了适当的应变概念,缺陷密度就会显示为应变不相容的来源。
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