指标异常

给定结构表面上的缺陷分布，例如由二维晶体材料、液晶表面和薄夹壳所代表的缺陷，所产生的应力场和变形形状是什么?出于这种考虑，我们首先分类，并量化，在广泛的结构表面上允许的平移，旋转和测量缺陷。有了适当的应变概念，缺陷密度就显示为应变不相容的来源。