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对称性破缺

考希克·达斯的照片

微机电浅拱在动态荷载作用下的对称性破缺、穿透和拉入不稳定性

星期五，2009-08-07 10:06 -kaushik das

研究

微机电系统

入不稳定

对称性破缺

拉片参数

bi-stability

pseudo-arc-length延续

拱形微机电系统(MEMS)已被应用于机械存储器、微型继电器、微型阀门、光学开关和数字微镜等领域。双稳定结构，如拱，以多值荷载挠度曲线为特征。

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