裂纹模拟

由微动疲劳引起的应力集中是由麻省理工学院的Suresh小组在20世纪90年代末用一个简单的“裂纹模拟”模型(CA)研究的，然后由本作者“改进”，在所谓的“裂纹样缺口模拟”(CLNA)模型中只考虑接触载荷和体应力载荷，甚至考虑有限应力集中的情况。