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三维测量

种植体选择和定位网络研讨会,2020年4月29日

欢迎您参加在Simpleware软件中选择种植体和定位的网络研讨会。15分钟的网络研讨会展示了我们在计算机断层扫描(CT)图像数据中选择和定位CAD植入物方面取得的一些最新进展。

本次网络研讨会将以CT躯干扫描为例,讨论Simpleware ScanIP中不同的测量技术,以及如何为3D打印、有限元分析和CAD创建骨科模型。

可在此注册。

Shuman_Xia的照片

用于微尺度三维表面位移和形状测量的光学显微镜

我们报道了一种新型光学显微镜,用于在微观尺度上对三维(3D)表面变形和形貌进行全方位、非接触测量。该显微镜系统是基于衍射辅助图像相关(aic)方法与荧光显微镜的无缝集成。我们通过实验证明了该显微镜具有亚微米空间分辨率和亚像素测量精度的三维测量能力。

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