机械循环加载初期表面粗糙度演化

采用三维离散位错动力学模拟方法，研究了FCC单晶在机械循环加载初期，晶体尺寸和初始位错密度对表面粗糙度演变的影响。尺寸小于2 μm的晶体表面滑移局部化发展较早，而尺寸较大的晶体表面滑移局部化分布较均匀。表面粗糙度随加载次数的增加而增加，较大的晶体比较小的晶体表现出较高的粗化率。双交叉滑移是地表滑移带发育、生长和增厚的主要机制。最大表面高度是表面应力集中的一个指标，观察到随着加载循环次数的增加而线性增加，随着模拟循环次数的增加而二次增加。最后，结果与实验结果一致，为进一步理解控制表面粗糙度演变的机制提供了物理基础。

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0142112316000712

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https://www.youtube.com/watch?v=O1Jf2FzV7kQ