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双材料系统的角或边断裂

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索博士的团队最近正在研究棱角或边缘等尖锐特征。在微电子学中,角边断裂行为的表征变得十分重要。

我有两个问题,

1.对于角点问题,由于剪切应力奇异性较弱,断裂韧性为单一值。然而,当形成界面裂纹时,断裂韧性取决于混合比。如何将这两种描述联系起来并保持一致;

2.对于双材料中涉及两个界面的角落,单一断裂参数是否足以描述裂纹的起裂?

我附上了一份详细问题说明的文件。

附件 大小
PDF图标IEEE CPT 2001 -Fan.pdf 196.62 KB

评论

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你好,

很高兴在这里见到你。

Zhaungjian

关于第一个问题,请看下面的参考资料:

  • Nakamura, T.,“弹性界面裂纹的三维应力场”,应用力学学报,58(1991) 939-946。

--

嗨,Xuejun,

你说得对。我们现在正在研究尖锐特征周围的奇点。我上周在准备论文答辩,很抱歉回复你的帖子晚了。

我们刚刚研究了倒装芯片封装。关于你提出的问题,也许我可以试着评论一下。

1).对于均匀材料中的一个角,正如你指出的,剪切模式是相当弱的。但对于双材料角,例如在你的论文中倒装芯片封装中的90度楔形配置,通常有两个奇点指数,一个强,另一个弱。但是因为没有对称性,所以我们不能再说打开模式或剪切模式了。而且这两个奇异值都相当强,例如对于die/FR4,它们是0.499和0.318。所以我们必须考虑两种模式。

2).对于倒装封装中的拐角,底角和圆角高度对可靠性起着非常重要的作用。如果它们足够厚,它们可以缓解应力集中,起到缓冲层的作用。也许由于焊点的小型化以及硅芯片和封装衬底之间的相关间隙,这种缓冲效应正在逐渐减弱。

3)你说的“涉及两个接口”是什么意思?你是说“双材料拐角处的界面裂缝”吗?

这是我最近关于…的帖子的链接界面分层和芯片封装相互作用。请评论,让我们讨论更多。

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