材料应用的Simpleware解决方案研讨会:6月25日，南加州大学，洛杉矶

日期:2015年6月25日，星期四

时间:上午10点至下午12点

地点:Laufer图书馆(RRB 208)，南加州大学拉普工程大楼，洛杉矶，CA

呈送方:Simpleware Reseller Device Analytics LLC

这个技术研讨会是针对那些对3D图像数据的可视化，测量和网格化感兴趣的人，以生成3D打印，CAD和有限元模型。我们将展示从3D图像数据中获得高保真网格的便利性，讨论最新版本的新功能，并将展示各种应用程序处理和网格化图像数据的工作流程。

费用:

注册后$0

先决条件:

建议熟悉影像学资料

参加本次活动，学习如何:

可视化和处理来自各种成像方式的数据(例如CT, MicroCT, MRI…)

获得测量和统计数据，如孔隙度，体积，裂缝尺寸…

在图像数据中导入和定位CAD文件

计算扫描样品的有效材料性能

直接导出到所有领先的有限元/CFD求解器，如Comsol, Ansys, Abaqus…

在材料科学的各种应用中使用Simpleware软件

注册:

研讨会是免费的，但由于座位有限，需要预先登记。

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