李博士，你好，

石墨烯可以制成透明/柔性导电涂层和tft，这是真的。很快就会有一篇论文报道在PET衬底上制造单层石墨烯器件。参考资料准备好后我会更新。

石墨烯基电极的问题在于它具有特殊的非金属态密度，石墨烯晶体管的问题在于它不能完全关闭。人们已经基本上通过带隙工程解决了后面的问题(参见陈志宏等人，http://lanl.arxiv.org/abs/cond-mat/0701599和M. Han 等人，http://lanl.arxiv.org/abs/cond-mat/0702511)，可能很快就会有其他解决方案出现。

对于碳纳米管Mat透明电极，我所知道的最佳结果是透明度为87%，160欧姆/平方，由张代华等人。， 纳米。leet . 6, 1880(2006)，与ITO(10 ohm)比较。Sq (>80%透明度)或>100欧姆/ Sq(90%透明度)。它越来越近了。

-jianhao

谢谢雷指出这一点。在柔性电子领域，测量新材料或新结构的机械性能是一个非常热门的话题。这些信息可以用来指导设计和材料的选择。数字图像相关是完成这项工作的有力工具。而传统的DIC是采用极高信噪比的光学数码相机设计的，可以在数字图像中提供几乎没有噪声和稳定的背景强度。当以原子力显微镜为成像系统将DIC扩展到微米级或超尺度测量时，它面临着一些新的挑战。在成像过程中，AFM尖端距离样品表面仅约10 Å，因此尖端和表面之间可以发生接触。这会在加载前后的图像中产生随机噪声;它还会在薄膜表面产生作用力，导致机械性能测量的不准确。与AFM中使用的压电材料相关的漂移也会导致随机噪声的产生和图像失真，这在测量中是不可接受的。 To cope with this problem, a hybrid method is proposed to achieve the goal. The method uses regularly oriented nano-scale structures that are fabricated on the surface of the specimen. After obtaining the SEM pictures of patterns on the region of interest before and after loading (deformation), the conventional low-pass filter combined with a de-blur filter (Wiener Filter) are applied to eliminate the noise during SEM imaging effectively. The fundamental concepts of pattern recognition and correlation are subsequently employed to determine the deformation field that will eventually convert to the mechanical properties measurement. A link here about N-PRCT describes the basic idea of this technique.

在课堂上，教授金属薄膜在聚合物衬底上的固有表面屈曲模式。本文以'为研究对象，研究了金属薄膜在结构聚合物衬底上的扭曲' '，研究了薄膜在退火过程中的扭曲模式。考虑了波纹结构的扭曲波与本征屈曲波之间的相互作用，给出了波纹几何形状、退火温度、材料性能对扭曲模式的影响。研究结果对多层薄膜加工中表面起皱的控制具有一定的指导意义。

由于建模用预先给定的聚合物基板模量计算图案，并且发现图案与该参数密切相关，因此在计算聚合物模量时使用什么模量值是高度依赖于温度的，特别是在高温下，这将在退火过程中发生。在高温下，模量会随时间的变化而发生剧烈的变化，图案会随时间的变化而发生演化。为了改进，需要更严格的建模，而不是单纯的弹性建模。

我看到一篇文章，可能对"imechanica"社区感兴趣。本文综述了目前柔性衬底上薄膜电子学的力学知识。

本文重点研究了非晶硅薄膜晶体管和太阳能电池在外加拉伸应变作用下的力学响应。在压缩应变下，它们的响应没有明显的差异。当压缩应变达到2%时，a- si:H TFT不会发生机械破坏，但当拉伸应变达到0.3%时，裂纹就开始形成。在0.3%至0.5%的拉伸应变之间，TFT失效，但当应变消除时，电气功能恢复。当拉伸应变超过0.5%时，裂纹变为永久性裂纹并发生机械失效。对于非晶硅锗太阳能电池，拉伸应变高达0.7%和压缩应变高达1.7%时，电性能没有变化。当拉伸应变大于0.7%时，电气性能下降。令人惊讶的是，即使在2%的拉伸应变下，太阳能电池的效率仍保持在原始值的50%。

The authors also point out that the change in radius of curvature of the flexible device due to mismatch strain in the device structure should be minimized through out the fabrication process. The mismatch strain is caused due to thermal mismatch strain between the metal film and substrate as well as the built in strain of the metal film. The possible solutions to reduce undesired curving are: (i) by compensating the CTE mismatch with built in strain, (ii) by attaching the flexible substrate to a rigid carrier for the duration of the fabrication and (iii) by patterning of continuous layers into islands that relieves the global mismatch strain.

Helena Gleskova, I-Chun Cheng, Sigurd Wagner, James C. Sturm, Zhigang Suo, “Mechanics of thin film transistors and solar cells on flexible substrates”, Solar Energy, vol 80, pp. 687-693, 2006.

Weblink: http://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S0038092X05003683

我非常同意力学是非常强大的，对于我们理解新技术是必要的。然而，我们必须承认，我们不能简单地用现有的力学知识来解决新技术中的新问题。换句话说，新的研究领域的新挑战可以帮助我们从另一个角度/方法来理解力学。

我想指出一篇关于薄膜力学的论文:

Chasiotis, I. 薄膜和微器件的力学，器件与材料可靠性，IEEE学报，on page(s): 176- 188, Volume: 4, Issue:在Chasiotis的论文中，他介绍了一种集成的AFM/DIC(原子力显微镜/数字图像相关)技术，可以直接和全场测量微米级样品的杨氏模量、泊松比和断裂韧性。通过这种技术，他指出薄膜的机械可靠性取决于制造参数(沉积，DRIE，牺牲蚀刻)和器件几何形状(尺寸，应力集中，表面条件)。

我认为这篇论文有助于学生对薄膜的力学有一个大致的认识。